大理石平板檢測方法

大理石平板也稱大理石平臺(tái)、花崗巖平臺(tái)、花崗石平臺(tái)、花崗巖平板、花崗石平板、巖石平板、平板等，是用于工件檢驗(yàn)或者劃線工作中的平面基準(zhǔn)器具，廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工制造活動(dòng)中。

大理石平板生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的大理石平板按照精度等級(jí)分為0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)和3級(jí)，其中0級(jí)、1級(jí)和2級(jí)大理石平板作為檢驗(yàn)平板使用，3級(jí)大理石平板作為劃線平板使用。

大理石平板檢測方法主要包括以下幾種：

⑴電子水平儀配合檢驗(yàn)橋板檢測法：在恒溫 20±5℃環(huán)境下，將大理石平板放置于大理石平板廠家配套提供的大理石平板支架上調(diào)整好水平并靜置12小時(shí)以上，將電子水平儀置于橋板上，沿大理石平板工作面移動(dòng)，讀取不同位置數(shù)值以計(jì)算平面度誤差。與大理石平板精度等級(jí)guo家標(biāo)準(zhǔn)要求比較，看是否符合大理石平板所在精度等級(jí)要求，具體大理石平板精度等級(jí)要求如下：

0級(jí)大理石平板平面度允差（微米）=0.003乘以大理石平板對(duì)角線長度（mm）+2.5；

1級(jí)大理石平板平面度允差（微米）=0.006乘以大理石平板對(duì)角線長度（mm）+5；

2級(jí)大理石平板平面度允差（微米）=0.012乘以大理石平板對(duì)角線長度（mm）+10；

3級(jí)大理石平板平面度允差（微米）=0.024乘以大理石平板對(duì)角線長度（mm）+20。

⑵三點(diǎn)法：以平臺(tái)上相距zui遠(yuǎn)的三點(diǎn)組成評(píng)定基準(zhǔn)面，平行于該基準(zhǔn)面的兩包含平面間的zui小距離即為平面度誤差值。

⑶對(duì)角線法：通過一條對(duì)角線并平行于另一條對(duì)角線作評(píng)定基準(zhǔn)面，同樣測量平行于該基準(zhǔn)面的兩包含平面間的zui小距離作為誤差值。

⑷zui小二乘法：以實(shí)際被測表面的zui小二乘平面為基準(zhǔn)，計(jì)算平行于該平面且具有zui小距離的兩包含平面間的距離，此方法需計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)。

⑸zui小區(qū)域法：直接以包含實(shí)際被測表面的zui小包含區(qū)域的寬度作為平面度誤差值，是zui符合定義的評(píng)定方法。

⑹拖表法：固定百分表或千分表于表座或表架，調(diào)節(jié)測量桿與平臺(tái)平面垂直平行，測量前調(diào)零，通過指針跳動(dòng)判斷精度誤差。